マネジメントシステム

統計的プロセス管理システムMIDFUN SPC 4200

XBar-R、XBar-S、X-Rm、P / Pnチャート、C / Uチャート、プラト、CPKトレンドチャート、散布図、欠陥率遷移チャートなど、10種類以上の測定値を生成できます。、グラフィックとリファレンスインジケータをすばやく要約する10種類以上のデータを効果的に把握できます。欠陥の原因と取り扱い条件を明確に記録し、正確な分析と判断を行うことができます。同時に、EWMAおよびCUSUM管理図が提供され、小さな変更を監視します。

機器校正管理システムMSA-6000

測定システムの偏差、再現性、再現性、安定性、および直線性を制御します。
さまざまな検査機器の校正サイクル、校正記録、検査手順、仕様精度、その他の情報を完全に記録し、機器の検査安定性分析を提供します。
検査機器のばらつきと精度を効果的に評価し、人為的および機器のばらつきを回避し、測定データの信頼性を向上させます。

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